หน่วยการวัดความแม่นยํา Smu 7 นิ้วจอสัมผัสขนาดจุ
หมวดหมู่:
เครื่องทดสอบไมโครโอม
ข้อมูลจำเพาะ
ความแม่นยำ:
แรงดัน: 0.02%, กระแส: 0.02%
การปฏิบัติตามข้อกำหนดสูงสุดในปัจจุบัน:
±200mA
ความจุแหล่งที่มา/อ่างล้างจานสูงสุด:
±200nF
แหล่งที่มาสูงสุด / กระแสจม:
±200mA
ความถี่แหล่งที่มา/การซิงก์สูงสุด:
±200kHz
ค่าความเหนี่ยวนำแหล่งจ่าย/ซิงก์สูงสุด:
±200μH
แหล่งพลังงานสูงสุด / ซิงก์:
±200mW
ความต้านทานแหล่งที่มาสูงสุด/การจม:
±200โอห์ม
อุณหภูมิแหล่งที่มาสูงสุด/อ่างล้างจาน:
±200℃
แหล่งจ่ายสูงสุด / แรงดันซิงก์:
±200V
การปฏิบัติตามแรงดันไฟฟ้าสูงสุด:
±200V
ช่วงการวัด:
แรงดันไฟฟ้า: 0 ถึง ±100V, กระแสไฟฟ้า: 0 ถึง ±100mA
ชื่อสินค้า:
หน่วยวัดแหล่งที่มา
ปณิธาน:
แรงดัน: 10μV, กระแส: 10nA
เน้น:
SMU หน่วยวัด
,Smu หน่วยวัด 7 นิ้ว
,หน่วย Smu
การแนะนำ
หน่วยการวัดความแม่นยํา Smu 7 นิ้วจอสัมผัสขนาดจุ
คุณลักษณะการทํางาน
TH1991/TH1992 ซีรีย์หน่วยแม่นยําแหล่ง / หน่วยวัดสามารถออกและวัดแรงดันและกระแสในเวลาเดียวกัน. อุปกรณ์รวมหน้าที่ของแหล่งกระแส, แหล่งแรงดันวอลท์เมตรและอัมเปอร์เมตร, และแต่ละฟังก์ชันสามารถเปลี่ยนได้ตามใจชอบ
หน่วยแหล่ง/หน่วยวัดความแม่นยําซีรีส์ TH1991/TH1992 สามารถออกแรงต่อเนื่องสูงสุด ±210V ความแรงต่อเนื่อง ±3A และความแรงต่อเนื่อง ±10.5A ขั้นต่ํา 10fA/100nV การจําหน่ายพลังงานและความละเอียดการวัดรองรับการเก็บตัวอย่างความเร็วสูง, และสามารถสร้างรูปคลื่นตามใจชอบ
TH1991/TH1992 ซีรี่ย์แม่นยําแหล่ง / หน่วยการวัด ซีรีย์ใช้จอสัมผัสขนาด 7 นิ้ว, กับระบบปฏิบัติการ Linux เป็นชั้นล่าง,อินเตอร์เอ็กซ์เตอร์ออนไลน์ อินเตอร์เฟซการใช้งานแบบกราฟฟิก และรูปแบบการแสดงต่างๆ, และไดโอเดส, ไทโอเดส, ท่อ MOS และ IGBTs และอุปกรณ์อื่น ๆ ที่สร้างขึ้นซึ่งสามารถปรับปรุงประสิทธิภาพการทดสอบได้อย่างมาก.
วงการ TH1991/TH1992 ของหน่วยแหล่ง/หน่วยวัดความแม่นยําที่มีฟังก์ชันพลังงานและการวัดที่ครบถ้วนและบูรณาการ เหมาะสําหรับการทดสอบครึ่งตัวนําและอุปกรณ์และวัสดุอื่น ๆ ที่หลากหลาย.
หน่วยวัดแหล่งความแม่นยํา TH1991/TH1992 มีการใช้อย่างแพร่หลายในงาน R & D และการใช้งานทางการศึกษา, การพัฒนาอุตสาหกรรม, การทดสอบและการผลิต
คุณลักษณะการทํางาน
• หน้าจอสัมผัสขนาด 7 นิ้ว ความละเอียด 800×480
• ระบบปฏิบัติการ Linux
• การออกกําลังและการวัดความละเอียดสี่แควดาน
• การออกเสียงและการวัดช่องเดียว/สองช่อง
• สูงสุด ±210V กระแสไฟฟ้าแบบตรงกัน, กระแสไฟฟ้าแบบตรงกัน ±3A/กระแสไฟฟ้าแบบตรงกัน ±10.5A
• ความละเอียดการวัดขั้นต่ํา 10fA/100nV (6 1/2 หลัก)
• ความละเอียดขั้นต่ํา 10fA / 100nV ของอุปทาน (6 1/2 หลัก)
• สูงสุด 1000อัตราการเก็บตัวอย่าง 1,000 จุด/วินาที
• การผลิตรูปคลื่นแบบสุ่ม
•ฟังก์ชันสแกนรายการ (ระยะเวลาอย่างน้อย 1μs)
• การผลิตเส้นโค้ง I/V โดยตรงของไดโอเดส, ไทโอเดส, ท่อ MOS และ IGBT
การใช้งาน
• การทดสอบครึ่งตัวนํา, องค์ประกอบที่แยกแยกและเฉยๆ
ไดโอเดส ไดโอเดสเลเซอร์ ไลด์
เครื่องตรวจจับแสง, เซ็นเซอร์
ทรานซิสเตอร์ประสิทธิภาพสนาม, ไทรอยด์
ICs (ICs, RFICs, MMICs)
เครื่องต่อรอง, รีออสเตต, เทอร์มิสเตอร์, สวิตช์
• อิเล็กทรอนิกส์ความแม่นยําและการทดสอบอุปกรณ์พลังงานสีเขียว
PV
เครื่องประกอบไฟฟ้า
แบตเตอรี่
รถ
เครื่องมือการแพทย์
แหล่งพลังงานและ DC Bias สําหรับการทดสอบระดับ board
• การวิจัยและการศึกษา
การวิจัยวัสดุใหม่
คุณสมบัติของอุปกรณ์นาโน
ความต้านทานมักเนตขนาดใหญ่
อุปกรณ์อินทรีย์
แหล่ง I/V หรือวัดความแม่นยําใด ๆ
ขนาดและน้ําหนัก
ขนาดชั้น (mm): 125x132x480
พื้นที่บรรจุ (มิลลิเมตร): 236x154x526
น้ําหนักสุทธิ: ประมาณ 6 กิโลกรัม (ช่องเดียว) / 7.5 กิโลกรัม (ช่องสอง)
อุปกรณ์เสริมมาตรฐาน:
โซนทดสอบเข็มคม
ผัดกล้วย
โปรแกรม Tonghui PC
สายไฟฟ้าหนึ่งสาย
สาย USB หนึ่ง
อุปกรณ์เสริม
อุปกรณ์เสริมที่ต้องการ:
บอร์ดปรับปรุง GPIB
เครื่องปรับเสียงเสียงต่ํา
ชุดเครื่องสํารวจเคลวิน
ปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับปรับ
การทดสอบการเชื่อมต่อสามแกน
ลักษณะ
• 10fA การออกกําลังปัจจุบันและความละเอียดการวัด; 100nV การออกแรงดันและความละเอียดส่วนประกอบ
• ความดันออกสูงสุด ±210V ความดันออกสูงสุด ±3.03A (DC) / ±10.5A (impulse)
• รองรับ DC, กระแทก, sweep และรายการผลิต
• ระยะเวลาการเก็บตัวอย่างขั้นต่ํา 1μs
• มีฟังก์ชัน I/V curve sweep รวมถึงฟังก์ชันการแสดงรูปคลื่นระยะเวลา
• ความกว้างของแรงกระแทกของผลิตแรงกระแทกสามารถมีขนาดเล็กเพียง 50μs
• ทั้งสองสายการวัด / สี่สายการวัด
• ความถี่เวลาของเครื่องกรองออก (หรือความถี่การตัด) สามารถตั้งค่าได้อย่างอิสระเพื่อบรรลุผลตอบสนองความถี่ใด ๆ
•ฟังก์ชันการคัดแยก 14 ระดับ รวมถึงโหมดการจัดลําดับและการคัดแยก
• ฟังก์ชันการประกอบการคณิตศาสตร์, ฟังก์ชันฟิลเตอร์เฉลี่ยเคลื่อน, ฟังก์ชันการลบความเบี่ยงเบน
•ฟังก์ชันการวิเคราะห์พารามิเตอร์ครึ่งตัวนํา เพื่อสร้างเส้นโค้งลักษณะของอุปกรณ์ที่ใช้กันทั่วไปอย่างรวดเร็ว
• 4 รูปแบบพื้นฐานของแหล่งแรงดัน แหล่งกระแสไฟฟ้า วอลต์เมตร แอมเปอร์เมตร หรือเครื่องวัดความต้านทาน
• วิธีการทดสอบความต้านทานต่ําแบบเดลต้า สามารถชดเชยความผิดพลาดในการวัดที่เกิดจากแรงไฟฟ้าไฟฟ้า
ส่ง RFQ
คลังสินค้า:
ขั้นต่ำ: